Apr 20, 2020Eine Nachricht hinterlassen

Kennen Sie sich wirklich mit Oszilloskopen aus? (Teil 2)

Innovative Technologie zum Aufzeichnen und Klonen von Wellenformen

 

OWONs innovative Waveform-Aufzeichnungs- und Klontechnologie, der Kern der Technologie sind Waveform-Aufzeichnungen. Zeichnen Sie Wellenformen in komplexen und gefährlichen Umgebungen auf, um die Nachbearbeitung zu erleichtern, sodass Sie wichtige Burst-Wellenformen und Aufzeichnungen jederzeit beherrschen können.

Das konfigurierte Multimeter kann als Langzeit-Datenaufzeichnungsgerät verwendet werden.

Die Technologie zum Klonen von Wellenformen unterscheidet sich von der herkömmlichen Erfassung und Speicherung von Wellenformen. Die intelligente AD/DA-Technologie (mit integriertem Signalgenerator) macht das Oszilloskop bei der Wellenformwiederkehr und Wellenformanalyse sowie Rauschanalyse genauer, wenn es um die Erfassung von Burst- oder Gelegenheits- und Triggersignalen geht.

Ingenieure haben beim Verifizierungs- und Debugging-Prozess eine innovative Wahl. Die revolutionäre Änderung löst vollständig das Problem, dass herkömmliche digitale Oszilloskope keine detaillierten Reaktionen analysieren und Wellenformen nicht reproduzieren können.


Clone Wave Oscilloscope

Klonen und Ausgeben von Wellenformen

 

Record Wave Oscilloscope

Aufzeichnung und Wiedergabe von Wellenformen


EMI-Vortest

EMI-Vortest. Aufgrund der Beliebtheit elektromagnetischer Interferenztests in der modernen Messtechnik ist die Vorprüfung besonders wichtig. Die lange verschollene Oszilloskop-EMI-Messung ist nun wieder auf dem Markt und weckt die Hoffnungen vieler Vorgänger der Branche. Jetzt ist OWON auch beim PRE TEST von EMI nicht dabei und stellt den Spektrumanalysator vor (Fortsetzung folgt), der ein Oszilloskop zum Testen von EMI verwendet. Aber wie kommt man ZURÜCK ZUM BASIC? Lassen Sie OWON Ihr Gedächtnis wecken!

 

EMI Pre Test Oscilloscope 

Das Oszilloskop kann einen EMI-Tester nicht ersetzen, insbesondere bei der Durchführung von Konformitätstests, aber es kann als gutes EMI-Test- und schnelles Debugging-Tool dienen.


(Fortgesetzt werden.)


Geschrieben vonTony Yeh(OWON leitender Ingenieur)

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