Mar 26, 2025 Eine Nachricht hinterlassen

OWON Multifunktions-Digital-Phosphor-Oszilloskop der 4. Generation

 

Technische Kerninnovationen

 

● Ultra-Geringes Rauschen und hohe Auflösung

Nutzt die X-Vision III-Architektur mit einem Grundlinienrauschen von nur 200 μV und ermöglicht so eine präzise Signalanalyse auf μV{2}}-Ebene.

●12-Bit-Vertikalauflösung(im erweiterten Modus auf 16 Bit erweiterbar) und unterstützt die Signalerfassung mit hohem Dynamikbereich.

●Hohe Proben- und Speicherkapazität

Bandbreite: 20 MHz–500 MHz (z. B. ADS3000-Serie); Echtzeit-Abtastrate bis zu 2,5 GSa/s; Die Speichertiefe von 100 Mpts sorgt für eine lange Wellenformaufzeichnung.

●Wellenform-Erfassungsrate: 500.000–750.000 Wfms/s (im Sequenzmodus), wodurch die Erkennung vorübergehender Anomalien erheblich verbessert wird.

●Hybrid-Signalanalyse

Unterstützt 4 analoge + 16 digitale Kanäle mit hardwarebeschleunigter I2C/SPI/CAN/LIN-Protokolldekodierung für Echtzeit-Bussignalanalyse. Erweiterte Triggermodi: Flanken-, Impuls-, Fenster-, Logik- und Protokoll-Trigger.

Schlüsselanwendungen

 

●Neues Energie- und Energiedesign

μV--Pegelgenauigkeit für die MPPT-Effizienzanalyse von Photovoltaik-Wechselrichtern und die Prüfung der Schleifenreaktion von Energiespeichersystemen.

●Automobilelektronik

Hardware-dekodierte CAN-FD/LIN-Bussignale für die Validierung der Steuergeräte-Signalintegrität und Sensorrauschdiagnose.

●5G und Hochgeschwindigkeitskommunikation

Unterstützt PCIe 6.0-Jitter-Analyse und HF-Signalspektrumanalyse für Telekommunikationsforschung und -entwicklung.

●Forschung und Bildung

Budgetmodelle integrieren FFT-Analyse und Lissajous-Mustergenerierung für Universitätslabore.

Wettbewerbsvorteile

 

●Kosten-Effektive Lokalisierung

●Software-Ökosystem

Fernsteuerung über SCPI-Befehle und LabVIEW-Integration; unterstützt automatisierte Testabläufe.

Technische Evolutionstrends

 

Intelligente Diagnose

Grüne Tests

Optoelektronische Integration

 

 

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